金相学主要指借助光学(金相)显微镜和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组织和断口组织等进行分析研究和表征的材料学科分支，既包含材料显微组织的成像及其定性、定量表征，亦包含必要的样品制备、准备和取样方法。其主要反映和表征构成材料的相和组织组成物、晶粒(亦包括可能存在的亚晶)、非金属夹杂物乃至某些晶体缺陷(例如位错)的数量、形貌、大小、分布、取向、空间排布状态等。其主要由光学系统、照明系统和机械系统三部分组成，其中由光源、反光镜、物镜组、目镜和多组聚光镜组组成光学系统;底座上低压灯泡(为提高光源可靠性现多用冷光源即LED灯)，反光镜、孔径光栏、视场光栏和聚光镜组成照明系统;试样台、物镜转换器、接目镜、粗调和微调手轮、视场光栏和孔径光栏构成机械系统。新型的金相显微镜还具备瞬时高清抓拍和图像处理功能，金相显微镜跟一般显微镜成像的原理是大致相同。视频显微镜和金像显微镜。双光路显微镜规格尺寸
显微镜聚光镜
在照明系统中，聚光镜的作用是比较大限度地把光线聚集起来，投射到显微镜的成像系统中。基于聚光镜的功能，对聚光镜像质的要求为球差和色差，以和显微镜物镜的像差相适应。
显微镜色差
一般在设计时，只在可能条件下取得最小值即可，故聚光镜的选料很重要。聚光镜的材料宜选用低色散的光学玻璃（如K9玻璃)。由于位置色差在视场中叠加的结果是在其边缘出现彩色现象，只要使照明的区域大于标本的尺寸就能避免色差的影响。但是，对柯勒照明来说，要求聚光镜把它的光阑成像在物面上，避免色差影响以消色差聚光镜的方案替代了。消色差聚光镜的结构类似于高倍显微镜物镜，只是焦距比较长，以使光束能够通过较厚的载物玻璃（约2mm)照亮标本。
球差存在将影响聚光镜对光线的聚集能力，降低照明的效果。
双光路显微镜规格尺寸显微镜常见故障的排除；
扫描透射电子显微镜 (STEM) 基本原理
场发射电子枪激发的电子束经过复杂的聚光系统后被汇聚成为原子尺度的电子束斑，作为高度聚焦的电子探针，在扫描线圈的控制下对样品进行逐点光栅扫描。STEM成像不同于平行电子束的TEM，其利用聚集的电子束在样品上扫描。与SEM不同之处在于探测器置于试样下方，探测器接收透射电子束流或弹性散射电子束流，经放大后在荧光屏上显示出明场像和暗场像。各种成像模式收集散射信号的接收角度不同，因此可获取同一位置的不同图像，从而反应材料的不同信息，有环形明场像（ABF）、环形暗场像（ADF）、高角环形暗场像（HAADF）。
体视显微镜又可称为立体显微镜或解剖显微镜，是一种具有正象立体感显微镜。常常用于切片操作和显微外科手术等生物、医学领域和微小零件和集成电路的观测、装配、检查等工业检测。金相显微镜主要是用来鉴定和分析金属内部结构组织，是金属学研究金相的重要仪器，是工业部门鉴定产品质量的关键设备，专门用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。性能优越的光学系统，实现了大视野高分辨率成像；消色差设计有效实现色差校正。共聚焦显微镜主要应用于：生物学领域、高分子化学领域、表面粗糙度领域。
扫描探针显微镜控制器通过扫描器在竖直舛由方向移动样品以使探针和样品之间的距离(或相互作用的物理量)稳定在某一固定值;同时在x-y水平平面移动样品，使探针按照扫描路径扫描样品表面。扫描探针显微镜在稳定探针与样品间距的情况下，检测系统检测探针与样品之间相互作用的相关物理量信号;在稳定相互作用物理量的情况下，则通过竖直方向礴由位移传感器检测探针与样品之问距离。图像系统则根据检测信号(或探针与样品间距)对样品表面进行成像等图像处理。金相显微镜主要是用来鉴定和分析金属内部结构组织，专门用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。双光路显微镜规格尺寸
扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)是比较常用的两类扫描探针显微镜。双光路显微镜规格尺寸
激光共聚焦显微镜可以将水平分辨率提高40%以上，其优势可以达到120nm。激光共聚焦显微镜具有高度适应性，并且是非接触式检测。为了改善场景的深度，必须在高度方向上进行扫描以获得一系列切片，然后重叠以获得三维图像。激光共聚焦显微镜不需要样品制备和电导率处理，并且样品没有损坏(可以检测粉末，软样品和透明样品)。激光共聚焦显微镜具有丰富的测量结果，高分辨率的2D和3D摄影。各种2D和3D显示结果的比较，大面积图像样条曲线，非接触粗糙度测量，膜厚度测量，荧光分析等。操作和维护都很简单。激光共聚焦显微镜不需要昂贵的材料，模块设计，用户友好的操作软件以及自动校正程序。双光路显微镜规格尺寸
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