聚焦离子束（FIB）显微镜
随着纳米科技的发展，纳米尺度制造业发展迅速，而纳米加工就是纳米制造业的重要部分，纳米加工的代表性方法就是聚焦离子束。近年来发展起来的聚焦离子束（FIB）技术利用聚焦离子束对材料进行纳米加工，配合扫描电镜（SEM）等高倍数电子显微镜实时观察，成为了纳米级分析、制造的主要方法。目前已广泛应用于半导体集成电路修改、切割和故障分析等。
技术特征
1、比较高束流可以达到100nA,且加工性能优异。可以实现快速切割和纳米加工。
2、最高分辨率小于3nm，可以实现精细加工，并显示优异的FIB成像质量。
3、电压范围在500V-30KV可调，可以实现精细抛光，降低样品表面非晶层厚度。
4、离子源比较稳定，使用寿命长。行业内**长离子源寿命1500小时（3000uAh），72小时束流变化在5%以内。5、与SEM镜筒完美配合，可以实现FIB加工过程中可以利用SEM进行实时观察。 共聚焦显微镜观察激发光与发射光。湖南显微镜市场价
体视显微镜又可称为立体显微镜或解剖显微镜，是一种具有正象立体感显微镜。常常用于切片操作和显微外科手术等生物、医学领域和微小零件和集成电路的观测、装配、检查等工业检测。金相显微镜主要是用来鉴定和分析金属内部结构组织，是金属学研究金相的重要仪器，是工业部门鉴定产品质量的关键设备，专门用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。性能优越的光学系统，实现了大视野高分辨率成像；消色差设计有效实现色差校正。上海体视 显微镜金相显微镜一般有明场、暗场、偏光、微分干涉这四种常见的观察方法；
透射电子显微镜、扫描电子显微镜、扫描隧道显微镜和原子力显微镜是各个高科技领域经常运用的四种显微镜。英文名分别是Transmission Electron Microscope（TEM），Scanning Electron Mcroscope(SEM)、Scanning Tunneling Microscope（STM）和Atomic Force Microscope(AFM)。从名字中很容易知道四个显微镜的特点，其中TEM和SEM用的是电子来替代光，从而确定观测样品结构，而STM和AFM其实用的都是探针。所以可以认为亚显微级显微镜（这个名字主要是区别开光学显微镜，用来说明其分辨率远高于用可见光观测）可以分为两大类，即电子显微镜类别和探针显微镜类别。
显微镜透射照明的方式有两种：(1)临界照明这种照明要求聚光镜所成的光源像与被观察物体的物平面重合，如图1所示，相当于物面上放置一个光源，灯丝的形状同时出现在像面上，而造成不理想的观察效果。临界照明透射照明中，为使物镜的孔径角得以充分利用，聚光镜应有与物镜相同或稍大的数值孔径。临界照明聚光镜的孔径光阑常设在聚光镜的物方焦平面上，如果显微镜用的是远心物镜，聚光镜的出射光瞳与物镜的入射光瞳重合。聚光镜的光阑做成可变光阑，可任意改变射入聚光镜的孔径角，使之与物镜的数值孔径匹配。由于临界照明聚光镜的出射光瞳和像方视场分别与物镜的入射光瞳和物方视场重合，所以形成“瞳对瞳，视场对视场”的光管。临界照明的缺点在于当光源亮度不均匀或者呈现明显的灯丝结构时,将会反映在物面上，使物面照度不均匀，从而影响观察效果。为了达到比较均匀的照明，这种照明方式对发光体本身的均匀性要求较高，同时要求被照明物体表面和光源像之间有足够的离焦量。后续物镜的孔径角应该取大一些，如果物镜的孔径角过小，焦深会很大，容易反映出发光体本身的不均匀性。 扫描探针显微镜的特点。
体视显微镜的原理及常见的体视显微镜的光路设计主要有两种：格里诺光路（GreenoughDesign）和伽利略光路（CMODesign）Greenough原理：两个相同的光学系统以10–16°的角度连接到同一支架。光路中的两个成像棱镜可确保图像直立并和实物的方向一致。常规使用的普通体视显微镜多数采用的是Greenough原理。伽利略光路原理：光学系统由两个平行的光束路径和一个共享的主要物镜组成，这就是为什么它被称为CMO（通用主要物镜）系统的原因。这种类型的体视显微镜具有可移动的观察管和可在管镜区域定制的通用配件，体视荧光附件就是其中重要的光学配件。伽利略光路的体视显微镜增加上体视荧光附件就可以升级为体视荧光显微镜，成为现代科学、再生医学、遗传学等领域重要的工具之一。 金相显微镜主要是用来鉴定和分析金属内部结构组织，专门用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。非标显微镜调试
STM和AFM的原理其实就是利用探针与样品间的距离进行测绘；湖南显微镜市场价
显微镜的观察方法
明视场观察：垂直照射测量物表面，适用于金属、印刷电路板、浅孔的表面观察。
暗视场观察：通过对从工件发出的散射光进行观察，可完成在明视场下观察不到的划痕、尘埃、凹凸，以及胜任低反射工件的观察。
偏光观察：观察具有偏光特性的物质，适用于半导体材料、液晶、结晶、金属组织、矿物等表面观察。
微分干涉（DIC）观察：利用Nomarski棱镜将光线分为两束，形成明暗和对比度变化，可进行立体观察。适用于观察硅片的结晶缺陷、磁头研磨面的损伤检查、涂装面、金属组织、矿石表面等。 湖南显微镜市场价
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