显微镜的观察方法
明视场观察：垂直照射测量物表面，适用于金属、印刷电路板、浅孔的表面观察。
暗视场观察：通过对从工件发出的散射光进行观察，可完成在明视场下观察不到的划痕、尘埃、凹凸，以及胜任低反射工件的观察。
偏光观察：观察具有偏光特性的物质，适用于半导体材料、液晶、结晶、金属组织、矿物等表面观察。
微分干涉（DIC）观察：利用Nomarski棱镜将光线分为两束，形成明暗和对比度变化，可进行立体观察。适用于观察硅片的结晶缺陷、磁头研磨面的损伤检查、涂装面、金属组织、矿石表面等。 共聚焦显微镜是由显微镜光学系统、激光光源、扫描器及检测及处理系统4部分组成；非标显微镜种类
体视显微镜的性能特点：
●先进的光学性能，平坦清晰的显微图像，即使是视场也能保持质量明亮的像质。
●采用新型视度可调目镜，连续变倍比物镜，灵活多样的辅助物镜组合，使显微图像更加清晰明亮。
●全新的人机工程学设计，长时间使用不感到疲劳，比较大限度的确保使用者操作的舒适性。
●广泛应用于医学、科研、现代电子工业在线检测和其他科技工业领域等高精度方面的要求。
用途：
●现代电子工业检测SZN可用于工业检测分析，如作晶体管点焊、检查等操作工具。各种材料的裂缝构成，气孔形状腐蚀情况等表面现象的检查。在制造小型精密零件时作机床工具的装置、工作过程的观察、精密零件的检查以及装配工具等。
●生物医学研究SZN可用于医学、科研的基础生物研究。同时也满足于中高等院校的教学实验课程，如动物学、植物学、昆虫学、组织学和解剖学等多种研究课程。 江苏显微镜加装体视显微镜和光学显微镜。
扫描透射电子显微镜 (STEM) 基本原理
场发射电子枪激发的电子束经过复杂的聚光系统后被汇聚成为原子尺度的电子束斑，作为高度聚焦的电子探针，在扫描线圈的控制下对样品进行逐点光栅扫描。STEM成像不同于平行电子束的TEM，其利用聚集的电子束在样品上扫描。与SEM不同之处在于探测器置于试样下方，探测器接收透射电子束流或弹性散射电子束流，经放大后在荧光屏上显示出明场像和暗场像。各种成像模式收集散射信号的接收角度不同，因此可获取同一位置的不同图像，从而反应材料的不同信息，有环形明场像（ABF）、环形暗场像（ADF）、高角环形暗场像（HAADF）。
体视显微镜的应用
1．动物学、植物学、昆虫学、组织学、矿物学、考古学、地质学和皮肤病学等的研究。
2．在纺织工业中，用于原料及棉毛织物的检验。
3．在电子工业中，作为晶体管点焊、检查等操作工具。
4．各种材料的裂缝构成，气孔形状腐蚀情况等表面现象的检查。
5．在制造小型精密零件时，用于机床工具的装置、工作过程的观察、精密零件的检查以及装配工具。
6．透镜、棱镜或其它透明物质的表面质量，以及精密刻度的质量检查。
7．作文书钱币的真假判辨，刑侦犯罪证据的检索。
8．广泛应用于纺织制品、化工化学、塑料制品、电子制造、机械制造、医药制造、食品加工、印刷业、高等院校、考古研究等众多的领域。 体视显微镜又可称为立体显微镜或解剖显微镜；
显微镜常见故障的排除：
一、显微镜灯泡不亮1、检查电源线是否有松动，插座是否正常。2、检查保险丝是否烧断（保险丝多在机身电源接口处），如烧断了则更换保险丝。3、更换备用灯泡，注意在更换过程中不要手指直接接触到灯泡。
二、显微镜无法对焦成像1、检查调焦限位机构是否没调节好，导致工作距离不够。2、检查样品是否放反。
三、低倍下成像清晰，高倍下成像较模糊1、高倍下对样品厚度和平整度有更高要求，检查样品是否平整。2、盖玻片位置是否放反，注意盖玻片朝上。3、生物显微镜应注意100X物镜是否滴油，物镜是否干净。4、切换到高倍镜时，聚光镜上的孔径光阑相应调大。
透射电子显微镜、扫描电子显微镜、扫描隧道显微镜和原子力显微镜是各个高科技领域常用的四种显微镜。山东FS70L显微镜
激光扫描共聚焦显微镜的扫描成像技术。非标显微镜种类
聚焦离子束（FIB）显微镜
随着纳米科技的发展，纳米尺度制造业发展迅速，而纳米加工就是纳米制造业的重要部分，纳米加工的代表性方法就是聚焦离子束。近年来发展起来的聚焦离子束（FIB）技术利用聚焦离子束对材料进行纳米加工，配合扫描电镜（SEM）等高倍数电子显微镜实时观察，成为了纳米级分析、制造的主要方法。目前已广泛应用于半导体集成电路修改、切割和故障分析等。
技术特征
1、比较高束流可以达到100nA,且加工性能优异。可以实现快速切割和纳米加工。
2、最高分辨率小于3nm，可以实现精细加工，并显示优异的FIB成像质量。
3、电压范围在500V-30KV可调，可以实现精细抛光，降低样品表面非晶层厚度。
4、离子源比较稳定，使用寿命长。行业内**长离子源寿命1500小时（3000uAh），72小时束流变化在5%以内。5、与SEM镜筒完美配合，可以实现FIB加工过程中可以利用SEM进行实时观察。 非标显微镜种类
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