金相学主要指借助光学(金相)显微镜和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组织和断口组织等进行分析研究和表征的材料学科分支，既包含材料显微组织的成像及其定性、定量表征，亦包含必要的样品制备、准备和取样方法。其主要反映和表征构成材料的相和组织组成物、晶粒(亦包括可能存在的亚晶)、非金属夹杂物乃至某些晶体缺陷(例如位错)的数量、形貌、大小、分布、取向、空间排布状态等。其主要由光学系统、照明系统和机械系统三部分组成，其中由光源、反光镜、物镜组、目镜和多组聚光镜组组成光学系统;底座上低压灯泡(为提高光源可靠性现多用冷光源即LED灯)，反光镜、孔径光栏、视场光栏和聚光镜组成照明系统;试样台、物镜转换器、接目镜...

扫描透射电子显微镜 (STEM) 是什么？ 扫描透射电子显微镜（Scanning Transmission Electron Microscopy， STEM）由透射电子显微镜（TEM）发展而来，指透射电子显微镜中有扫描附件者，尤其是指采用场发射电子枪作成的扫描透射电子显微镜。扫描透射电子显微分析是综合了扫描和普通透射电子分析的原理和特点而出现的一种新型分析方式，其空间分辨率可达亚埃米级，可在纳米和原子尺度上对材料微结构与精细化学组分的表征与分析。在冶金、材料、环境科学、生物科学等领域具有巨大应用潜力。 同一个物镜不切换，得到两个不同视野的成像。山东显微镜报价 显微镜机械系统维护保...

显微镜的使用方法及步骤：1、取用和放置使用时首先从镜箱中取出显微镜，一手握持镜臂，一手托住镜座，保持镜身直立，不可用一只手倾斜提携，防止摔落目镜。轻取轻放，放时使镜臂朝向自己，距桌边沿5-10厘米处。桌子平衡，桌面清洁，避免直射阳光。 2、开启光源打开电源开关 3、放置玻片标本将待镜检的玻片标本放置在载物台上，材料正对通光孔中间。再用弹簧压片夹在玻片的两端，防止玻片标本移动。若为玻片移动器，则将玻片标本卡入玻片移动器，然后调节玻片移动器，将材料移至正对通光孔**的位置 4、低倍物镜观察用显微镜观察标本时，应先用低倍物镜找到物像。其法如下：(1)转动粗调螺旋，用眼从侧面观望...

金相学主要指借助光学(金相)显微镜和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组织和断口组织等进行分析研究和表征的材料学科分支，既包含材料显微组织的成像及其定性、定量表征，亦包含必要的样品制备、准备和取样方法。其主要反映和表征构成材料的相和组织组成物、晶粒(亦包括可能存在的亚晶)、非金属夹杂物乃至某些晶体缺陷(例如位错)的数量、形貌、大小、分布、取向、空间排布状态等。其主要由光学系统、照明系统和机械系统三部分组成，其中由光源、反光镜、物镜组、目镜和多组聚光镜组组成光学系统;底座上低压灯泡(为提高光源可靠性现多用冷光源即LED灯)，反光镜、孔径光栏、视场光栏和聚光镜组成照明系统;试样台、物镜转换器、接目镜...

显微镜常见故障的排除： 一、显微镜灯泡不亮1、检查电源线是否有松动，插座是否正常。2、检查保险丝是否烧断（保险丝多在机身电源接口处），如烧断了则更换保险丝。3、更换备用灯泡，注意在更换过程中不要手指直接接触到灯泡。 二、显微镜无法对焦成像1、检查调焦限位机构是否没调节好，导致工作距离不够。2、检查样品是否放反。 三、低倍下成像清晰，高倍下成像较模糊1、高倍下对样品厚度和平整度有更高要求，检查样品是否平整。2、盖玻片位置是否放反，注意盖玻片朝上。3、生物显微镜应注意100X物镜是否滴油，物镜是否干净。4、切换到高倍镜时，聚光镜上的孔径光阑相应调大。 共聚焦显微镜主要...

照明系统通常包括光源，聚光镜及其他辅助透镜、反射镜。其中，光源的亮度、发光面积、均匀程度决定了聚光照明系统可以采用的形式。照明系统可采用的光源有卤钨灯、金属卤化物灯、高压汞灯、发光二 极管 (LED)、 氙灯、电弧灯等。有些光源在其发光面内具有足够的亮度和均匀性 ,可以用于直接照明 ,但大多数情况下，光源后面需要加入由聚光镜等构成的照明光学系统来实现一定要求的光照分布，同时使光能量损失小，这两方面是对不同照明系统进行设计时需要解决的共同问题。照明光学系统注重的是能量的分配而不是信息的传递，所关心的问题并不是像平面上的成像质量如何，而是被照明面上的照度分布和大小。透射电镜主要应用于半导体和芯片研...

体视显微镜和光学显微镜的区别 体视显微镜是利用双通道光路，为左右两眼提供一个具有立体感的图像。它实质上是两个单镜筒显微镜并列放置；光学显微镜是利用光学原理，把人眼所不能分辨的微小物体放大成像，以供人们提取微细结构信息的光学仪器。体视显微镜其光学结构与普通光学显微镜不同，体视显微镜的成像具有三维立体感的；而普通光学显微镜的成像不具有三维立体感。体视显微镜被广泛应用在工业上更重要的特点是因为其立体感强，成像清晰和宽阔，又具有长工作距离，并是适用范围非常广的常规显微镜，操作方便，直观，检定效率高；光学显微镜在地质学等理工科专业中有重要应用。 聚焦离子束（FIB）显微镜；变倍 显微镜品牌排行...

透射电子显微镜在中国各行业的应用几乎无处不在，战略性行业更是必不可少。透射电子显微镜，简称透射电镜，是把人类观察从宏观世界带入到原子级微观世界。透射电子显微镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像放大、聚焦后在成像器件（如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件）上显示出来。透射电镜主要应用于半导体、材料科学、生命科学等领域。采购主体方面，主要是高校院所、医院、企业、锂电公司、半导体公司等。从全球范围看，透射电镜在半导体和芯片研发、缺陷分析和工业检测等方面应用较多，近年来半...

体视显微镜的性能特点： ●先进的光学性能，平坦清晰的显微图像，即使是视场也能保持质量明亮的像质。 ●采用新型视度可调目镜，连续变倍比物镜，灵活多样的辅助物镜组合，使显微图像更加清晰明亮。 ●全新的人机工程学设计，长时间使用不感到疲劳，比较大限度的确保使用者操作的舒适性。 ●广泛应用于医学、科研、现代电子工业在线检测和其他科技工业领域等高精度方面的要求。 用途： ●现代电子工业检测SZN可用于工业检测分析，如作晶体管点焊、检查等操作工具。各种材料的裂缝构成，气孔形状腐蚀情况等表面现象的检查。在制造小型精密零件时作机床工具的装置、工作过程的观察、精密零件的检...

显微镜的观察方式，你知道几种？明场成像是常见的显微镜观察方式，也是观察生物样品和材料样品常用的观察方式。观察不透明的材料样品，反射光明场是使用较多的观察方式。光源直接照射到样品表面，表面的结构对照射光有不同程度的反射和吸收，图像的亮暗就反映样品表面的粗糙度和吸光情况。暗场成像与明场成像相对应，顾名思义，人不会直接观察到照明光线，而是光线斜射到标本的表面，根据丁道尔(Tyndall)现象，微粒对斜射光进行反射或衍射，增大了人眼可见性，我们才能够观察到极其微小的物体。相差也是一种很常见的观察方式，用来进行活细胞成像。由于细胞在明场下轮廓不清，虽然可以观察到，但其边界或内部结构无法分辨清楚。...

体视显微镜的原理及常见的体视显微镜的光路设计主要有两种：格里诺光路（GreenoughDesign）和伽利略光路（CMODesign）Greenough原理：两个相同的光学系统以10–16°的角度连接到同一支架。光路中的两个成像棱镜可确保图像直立并和实物的方向一致。常规使用的普通体视显微镜多数采用的是Greenough原理。伽利略光路原理：光学系统由两个平行的光束路径和一个共享的主要物镜组成，这就是为什么它被称为CMO（通用主要物镜）系统的原因。这种类型的体视显微镜具有可移动的观察管和可在管镜区域定制的通用配件，体视荧光附件就是其中重要的光学配件。伽利略光路的体视显微镜增加上体视荧光附件就...

扫描探针显微镜是在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜(原子力显微镜，静电力显微镜，磁力显微镜，扫描离子电导显微镜，扫描电化学显微镜等)的统称，是国际上近年发展起来的表面分析仪器。 扫描探针显微镜的基本工作原理是利用探针与样品表面原子分子的相互作用，即当探针与样品表面接近至纳米尺度时形成的各种相互作用的物理场，通过检测相应的物理量而获得样品表面形貌。扫描探针显微镜主要由探针、扫描器、位移传感器、控制器、检测系统和图像系统5部分组成。 共聚焦显微镜是由显微镜光学系统、激光光源、扫描器及检测及处理系统4部分组成；双光路显微镜品牌排行榜 显微镜的观察方法 明视场观察：...

显微镜机械系统维护保养： ▪油漆表面的清洁：顽固污迹可以使用软性清洁剂清洁▪塑料表面的清洁：软布蘸水清洁即可。 显微镜光学系统维护保养： ▪不要用手接触光学零件▪擦镜纸是给油镜清洁使用的，干镜清洁请务必使用脱脂棉签▪油镜使用后用干净柔软的专业擦镜纸蘸无水乙醇采用螺旋渐进的方式轻轻擦干净油的物镜；√ 留意擦镜纸的两个面，纹路是不同的：其中一面是粗糙的，另一面更光滑些，要使用更光滑的那一面来清洁。一般不建议用干的擦镜纸直接擦拭，同样可能划伤镜头。▪如果有较顽固污迹或灰尘，先用洗耳球吹走较大较硬灰尘，然后用长纤维脱脂棉签或干净细棉布蘸无水乙醇擦拭，这样可以避免较大较硬灰尘颗粒划...

显微镜对于不透明物体的照明和暗视场照明方法 对于不透明物体，采用从侧面或者从上方照明的方法。此时，标本是靠散射光或反射光成像的。侧面照明是把光源放在标本的斜上方，有的显微镜用物镜四周的小灯泡形成斜照明，上方照明方式使物镜兼作聚光镜 暗视场照明方法：暗视场照明适用于离散分布的颗粒标本的观测。在某种程度上，暗视场照明可以提高显微镜的分辨率。暗视场照明的原理是不让透过标本的光直接进入物镜，只让由颗粒散射的光线进入物镜。这样，使物镜形成的像面是一个暗背景上分布着亮颗粒的景象。由于衬度（对比）好，有利于颗粒的分辨。暗视场照明分为单向暗视场照明和双向暗视场照明。分为单向暗视场照明和双向暗视...

聚焦离子束（FIB）显微镜 随着纳米科技的发展，纳米尺度制造业发展迅速，而纳米加工就是纳米制造业的重要部分，纳米加工的代表性方法就是聚焦离子束。近年来发展起来的聚焦离子束（FIB）技术利用聚焦离子束对材料进行纳米加工，配合扫描电镜（SEM）等高倍数电子显微镜实时观察，成为了纳米级分析、制造的主要方法。目前已广泛应用于半导体集成电路修改、切割和故障分析等。 技术特征 1、比较高束流可以达到100nA,且加工性能优异。可以实现快速切割和纳米加工。 2、最高分辨率小于3nm，可以实现精细加工，并显示优异的FIB成像质量。 3、电压范围在500V-30KV可调，可以实...

扫描透射电子显微镜兼具扫描成像与透射分析的特点，其仪器结构可看作SEM与TEM的结合。STEM主要由电子枪、电子光学系统、样品室、环形探测器与成像设备等组成。STEM与TEM的主要区别在于添加了扫描附件；与SEM的不同在于电子信号探测器安置在样品下方。 优缺点： 优点：（1）成像质量高，受样品厚度与仪器干涉小（2）可达到原子分辨率（3）结果分析简单、直观（4）能够快速获取样品的综合信息，成像效率高。 缺点：（1）制样时间长，对样品的要求高；（2）一些材料在高能电子束中不稳定；（3）测试成本高，仪器分布稀少。 探针台显微镜选用的是长工作距离物镜；70XL显微镜配件金相学主要...

扫描透射电子显微镜 (STEM) 基本原理 场发射电子枪激发的电子束经过复杂的聚光系统后被汇聚成为原子尺度的电子束斑，作为高度聚焦的电子探针，在扫描线圈的控制下对样品进行逐点光栅扫描。STEM成像不同于平行电子束的TEM，其利用聚集的电子束在样品上扫描。与SEM不同之处在于探测器置于试样下方，探测器接收透射电子束流或弹性散射电子束流，经放大后在荧光屏上显示出明场像和暗场像。各种成像模式收集散射信号的接收角度不同，因此可获取同一位置的不同图像，从而反应材料的不同信息，有环形明场像（ABF）、环形暗场像（ADF）、高角环形暗场像（HAADF）。 透射电子显微镜、扫描电子显微镜、扫描隧道显...

共聚焦显微镜扫描时用的是激光光源，激光的穿透力强，可对样本进行一定深度的光学断层，从而获得高标准的连续光学切片，由此做Z轴光学切片后重组出3D效果就能立体地展示样品里荧光的空间分布。配有高精度电动载物台和图像拼接软件，能完美解决放大倍数和整体成像这一问题。可做时间序列拍摄，实时监测荧光变化，可以把荧光变化的过程以动态的形式展示出来。 共聚焦的应用很广，像离体细胞、组织切片、物理材料、模式生物等荧光样本都可以用共聚焦进行拍摄，除了常规的荧光图片拍摄进行定性定位外，还可以进行荧光的半定量分析、共定位分析、荧光漂白恢复（FRAP）、荧光共振能量转换(FRET)等，但也要注意一下，常规405...

典型的共焦显微镜装置是在被测对象焦平面的共轭面上放置两个小孔，其中一个放在光源前面，另一个放在探测器前面，如图1所示。由图可知，当被测样品处于准焦平面时，探测端收集到的光强比较大；当被测样品处于离焦位置时，探测端的光斑发生弥散，光强迅速减小。因此，只有焦平面上的点所发出的光才能透过出射针（zhen）孔，而焦平面以外的点所发出的光线在出射针（zhen）孔平面是离焦的，绝大部分无法通过中心的针（zhen）孔。因此，焦平面上的观察目标点呈现亮色，而非观察点则作为背景呈现黑色，反差增加，图像清晰。在成像过程中，两针（zhen）孔共焦，共焦点为被探测点，被探测点所在的平面为共焦平面。共聚焦显微镜观察激发...

显微镜的观察方式，你知道几种？霍夫曼调制相差（HMC）利用斜射光照射到标本产生折射、衍射，光线通过物镜光密度梯度调节器产生不同阴影，从而使透明标本表面产生明暗差异，增加观察对比度。霍夫曼调制相差不会因在光路中使用双折射材料而受到阻碍，因此该技术对于检查由聚合材料制成的容器中的样本更为有用。而它不利的一面是，HMC会产生许多光学伪像，使该方法用于在玻璃盖玻片上进行贴壁细胞成像时比相差或DIC效果差。当斜射光照射到标本产生折射、衍射，通过物镜相衬板产生不同阴影，从而使透明标本表面产生明暗差异，增加观察对比度。激光共聚焦显微镜的明显优势。Optem显微镜市场价 显微镜透射照明的方式有两种：(1)临...

扫描透射电子显微镜兼具扫描成像与透射分析的特点，其仪器结构可看作SEM与TEM的结合。STEM主要由电子枪、电子光学系统、样品室、环形探测器与成像设备等组成。STEM与TEM的主要区别在于添加了扫描附件；与SEM的不同在于电子信号探测器安置在样品下方。 优缺点： 优点：（1）成像质量高，受样品厚度与仪器干涉小（2）可达到原子分辨率（3）结果分析简单、直观（4）能够快速获取样品的综合信息，成像效率高。 缺点：（1）制样时间长，对样品的要求高；（2）一些材料在高能电子束中不稳定；（3）测试成本高，仪器分布稀少。 视频显微镜和金像显微镜。体式显微镜品牌排行扫描探针显微镜根据所利...

显微镜对于不透明物体的照明和暗视场照明方法 对于不透明物体，采用从侧面或者从上方照明的方法。此时，标本是靠散射光或反射光成像的。侧面照明是把光源放在标本的斜上方，有的显微镜用物镜四周的小灯泡形成斜照明，上方照明方式使物镜兼作聚光镜 暗视场照明方法：暗视场照明适用于离散分布的颗粒标本的观测。在某种程度上，暗视场照明可以提高显微镜的分辨率。暗视场照明的原理是不让透过标本的光直接进入物镜，只让由颗粒散射的光线进入物镜。这样，使物镜形成的像面是一个暗背景上分布着亮颗粒的景象。由于衬度（对比）好，有利于颗粒的分辨。暗视场照明分为单向暗视场照明和双向暗视场照明。分为单向暗视场照明和双向暗视...

透射电子显微镜在中国各行业的应用几乎无处不在，战略性行业更是必不可少。透射电子显微镜，简称透射电镜，是把人类观察从宏观世界带入到原子级微观世界。透射电子显微镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像放大、聚焦后在成像器件（如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件）上显示出来。透射电镜主要应用于半导体、材料科学、生命科学等领域。采购主体方面，主要是高校院所、医院、企业、锂电公司、半导体公司等。从全球范围看，透射电镜在半导体和芯片研发、缺陷分析和工业检测等方面应用较多，近年来半...

显微镜的使用方法及步骤：1、取用和放置使用时首先从镜箱中取出显微镜，一手握持镜臂，一手托住镜座，保持镜身直立，不可用一只手倾斜提携，防止摔落目镜。轻取轻放，放时使镜臂朝向自己，距桌边沿5-10厘米处。桌子平衡，桌面清洁，避免直射阳光。 2、开启光源打开电源开关 3、放置玻片标本将待镜检的玻片标本放置在载物台上，材料正对通光孔中间。再用弹簧压片夹在玻片的两端，防止玻片标本移动。若为玻片移动器，则将玻片标本卡入玻片移动器，然后调节玻片移动器，将材料移至正对通光孔**的位置 4、低倍物镜观察用显微镜观察标本时，应先用低倍物镜找到物像。其法如下：(1)转动粗调螺旋，用眼从侧面观望...

显微镜常见故障的排除： 四、视野出现明亮不均匀检查显微镜使用前是否进行光路对中。 五、目镜视野观察全黑1、检查物镜是否转入光路，视场光阑和孔径光阑是否调节太小2、检查光路是否对中。 六、视野亮度偏暗1、检查视场光阑和孔径光阑是否调的太小。2、检查光路是否调节到位（聚光镜、光阑、灯丝）。3、是否使用了偏光、相差部件。 七、目镜视野内出现黑边1、检查是否视场光阑打得太小。2、光路是否对中（聚光镜、光阑、灯丝）。3、物镜转换是否卡到位。4、目镜筒与机身卡位是否准确。 八、同步性问题使用摄像头观察时，目镜观察清晰，但是电脑显示图像模糊。1、调节接口或接口透镜高度以达到...

聚焦离子束（FIB）显微镜 随着纳米科技的发展，纳米尺度制造业发展迅速，而纳米加工就是纳米制造业的重要部分，纳米加工的代表性方法就是聚焦离子束。近年来发展起来的聚焦离子束（FIB）技术利用聚焦离子束对材料进行纳米加工，配合扫描电镜（SEM）等高倍数电子显微镜实时观察，成为了纳米级分析、制造的主要方法。目前已广泛应用于半导体集成电路修改、切割和故障分析等。 技术特征 1、比较高束流可以达到100nA,且加工性能优异。可以实现快速切割和纳米加工。 2、最高分辨率小于3nm，可以实现精细加工，并显示优异的FIB成像质量。 3、电压范围在500V-30KV可调，可以实...

显微镜的观察方式，你知道几种？霍夫曼调制相差（HMC）利用斜射光照射到标本产生折射、衍射，光线通过物镜光密度梯度调节器产生不同阴影，从而使透明标本表面产生明暗差异，增加观察对比度。霍夫曼调制相差不会因在光路中使用双折射材料而受到阻碍，因此该技术对于检查由聚合材料制成的容器中的样本更为有用。而它不利的一面是，HMC会产生许多光学伪像，使该方法用于在玻璃盖玻片上进行贴壁细胞成像时比相差或DIC效果差。当斜射光照射到标本产生折射、衍射，通过物镜相衬板产生不同阴影，从而使透明标本表面产生明暗差异，增加观察对比度。照明系统通常包括光源，聚光镜及其他辅助透镜、反射镜。体视 显微镜厂家直销 扫描透射电子显...

显微镜的观察方法 明视场观察：垂直照射测量物表面，适用于金属、印刷电路板、浅孔的表面观察。 暗视场观察：通过对从工件发出的散射光进行观察，可完成在明视场下观察不到的划痕、尘埃、凹凸，以及胜任低反射工件的观察。 偏光观察：观察具有偏光特性的物质，适用于半导体材料、液晶、结晶、金属组织、矿物等表面观察。 微分干涉（DIC）观察：利用Nomarski棱镜将光线分为两束，形成明暗和对比度变化，可进行立体观察。适用于观察硅片的结晶缺陷、磁头研磨面的损伤检查、涂装面、金属组织、矿石表面等。 共聚焦显微镜是由显微镜光学系统、激光光源、扫描器及检测及处理系统4部分组成；非标显微镜种...

聚焦离子束（FIB）显微镜 随着纳米科技的发展，纳米尺度制造业发展迅速，而纳米加工就是纳米制造业的重要部分，纳米加工的代表性方法就是聚焦离子束。近年来发展起来的聚焦离子束（FIB）技术利用聚焦离子束对材料进行纳米加工，配合扫描电镜（SEM）等高倍数电子显微镜实时观察，成为了纳米级分析、制造的主要方法。目前已广泛应用于半导体集成电路修改、切割和故障分析等。 技术特征 1、比较高束流可以达到100nA,且加工性能优异。可以实现快速切割和纳米加工。 2、最高分辨率小于3nm，可以实现精细加工，并显示优异的FIB成像质量。 3、电压范围在500V-30KV可调，可以实...

光电流测试显微镜-探针台系统：本显微镜是在金相显微镜基础上导入另一路光源，用于辐照样品以测试样品在特定波长及能量下的电气特性等测试目的。本显微镜设计为双光路或3光路，其中一路为导入光通路，另一到两路为成像光路导入光为平行的激光或其它线性光源，波长范围200nm~20000nm，中间可加入多个波片过滤，起偏及偏振角度无级360度调节。光斑辐照直径有650nm红光指示。所有模块均可拉出设计，对导入光性质无影响。导入光光路可选择一个光时间开关，精确控制导入光的辐照时间，精度1ms，范围2ms~∞，在控制界面上可对各种参数进行详细设置。成像光路为同轴照明金相成像，其中一路为1倍成像，可选择第2路成...