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静安区综合金属基复合材料特点

来源: 发布时间:2024年05月05日

3.2.1复合板的抗拉强度理论下限标准值δB按下列公式计算:δB =(t1σ1+t2σ2) / (t1+t2)式中:σ1-基材抗拉强度下限标准值,N/mm2(kgf/mm2 );σ2-复材抗拉强度下限标准值,N/mm2(kgf/mm2);t1——基材厚度,mm;t2——复材厚度,mm。3.3结合面积复合板的结合状态、结合面积应符合表8的规定。表 80 类1 类2 类面积结合率为10096面积结合率大于98%;单个不结合区的长度不大于75mm,其面积不大于45cm2面积结合率大于95%:单个不结合区的面积不大于60cm23.4拼焊质量基材或复材的拼焊焊缝应满足以下条件:a.复材焊缝和基材焊缝应经无损检验,其判定标准及焊缝要求由供需双方协商确定;b.拼板**小板宽不小于300mm:当从基材面探测时,若来自复材底面的反射回波完全消失。静安区综合金属基复合材料特点

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B.2.1.1使用脉冲反射式超声波探伤仪。探伤仪器应符合ZBY230-84《A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件》中规定的技术性能指标。B.2.1.2也可使用超声波测厚仪。B.2.2探头B.2.2.1使用晶体为圆形或矩形的直探头。也可使用双晶斜探头及测厚探头。B.2.2.2晶体尺寸一般为φ10~30mm,矩形为宽(10~20)mm×长(15~30)mm,频率为2.5~10MHz。B.2.3耦合剂接触法探伤时,可采用清洁的自来水作耦合剂,也可使用水玻璃、溶性油、丙三醇等。B.2.4对比试块B.2.4.1对比试块应采用与被探复合板的材料厚度、声学性能和表面状态相同或相似的复合板材料制成。B.2.4.2对比试块A及试块B的形式及尺寸。B.3 探伤B.3.1探伤面的选择根据被探板材的表面状态、复材厚度、声阻抗及外观形状、决定从复材面或从基材面进行探测。B.3.2探伤灵敏度B.3.2.1探伤灵敏度根据被探板材的形状决定。虹口区品牌金属基复合材料有哪些在探伤过程中,由于某种原因的影响。

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注:其他元素含量出厂时不做检验。3.2力学性能和工艺性能复合板的力学性能和工艺性能应符合表7的规定。弯曲试验中试样弯曲至规定的角度后,在弯曲部分的外侧不允许产生裂纹,复合界面不允许分层。表 7拉伸试验剪切试验弯曲试验---抗拉强度σbN/mm2 (kgf/mm2)伸长率δ%②剪切强度τ,N/mm2(kgf/mm2)弯曲角α度弯芯直径Dmm-O类复合板其他类复合板---->δB大于基材或复材标准中较低一方的规定值>196(≥20)≥138(≥14)内弯180。 ,外 弯由复材标准决定内弯时按基材标准规定不够2倍时取2倍;外弯时为复合板厚度的3倍注:①当用户要求时,供方可以做基材的拉伸试验,其抗拉强度应达到基材相应标准的要求。②复合板的抗拉强度理论下限标准值δB按3.2.1计算。

标记示例2.5.1复材厚度为6mm的TA2、基材厚度为30mm的A3钢、宽度为1000mm、长度为3000mm、消除应力状态的1类爆炸复合板标记为:TA2/A3 B1 M 6/30×1000×3000 GB 8547-872.5.2复材厚度为2mm的TAl、基材厚度为10mm的A3钢、宽度为1100mm、长度为3500mm的2类-轧制复合板标记为:TAl/A3 BR2 2/10×1100×3500 GB 8547-87技术要求3.1化学成分3.1.1基材的化学成分应符合相应标准的规定。3.1.2复材TAl、TA2的化学成分应符合GB3620-83《钛及钛合***号和化学成分》的规定;Ti-0.3Mo-0.8Ni和Ti-0.2Pd的化学成分应符合表6的规定。采用多次脉冲反射法时,将探头置于对比试块A的完全结合部位。

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4.4.3复合板复材的厚度按GB6396-86的规定进行测量。4.5表面质量检查方法复合板的表面质量用肉眼进行检查。检验规则5.1检查和验收5.1.1产品应由供方技术检验部门进行检验,并保证产品质量符合本标准的要求。5.1.2需方对收到的产品可进行复验,如复验结果与本标准规定不符时,应在收到产品之日起三个月内向供方提出,由供需双方协商解决。5.2组批复合板应成批提交验收,每批应由同一牌号(复材/基材)、类别、复材熔炼炉号、规格、状态、加工工艺的产品组成。5.3检验项目每批产品的检验项目应符合表9的规定。d.必须说明的各种情况; e.探伤日期; f.探伤人员签名。青浦区综合金属基复合材料特点

c.加热和冷却速度:80~200℃/h。静安区综合金属基复合材料特点

B.3.3.3非贴合区的范围B.3.3.3.1从复材面探测时,随着探头任意移动方位,底面反射波下降至50%时,就是非贴合区的范围。非贴合区的宽度及长度。测定探头移动的距离,晶片内侧长度,即为非贴合区的长度或宽度。B.3.3.3.2从基材面探测时,按B型对比试块调整。非贴合区的范围用半波高度法确定。测定探头的移动距离,晶片的中心间距就是非贴合区的宽度及长度。B.3.4探伤灵敏度的校正在探伤过程中,由于某种原因的影响,。底面回波或缺陷回波的高度与B.3.2.3、B.3.2.4、B.3.2.5的调试状态不同时,可校正探伤仪灵敏度,使底面回波或缺陷回波幅度达到荧光屏满幅度的80%。B.3.5探伤速度静安区综合金属基复合材料特点

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