嘉定区防爆高纯度金属材料

电感耦合等离子体原子发射光谱法(InduetivelyCoupledplasmaAtomieEmissionSepcotrmetyr，ICP-AES)是根据不同元素的原子或离子在热激发或电激发下发射特征电磁辐射进行元素定性或定量检测的方法。随着ICP(电感祸合等离子体)光源技术的发展，ICP-AES己成为痕量元素分析检测***的手段之一，目前己广泛应用于半导体工业、新材料、高纯试剂、医学检测等众多行业中，在高纯金属分析检测领域也有着广泛的应用。ICP-AES法具有以下优点：(1) ICP-AES法可同时测定多个元素；(2) ICP-AES法测量的线性范围可达5-6个数量级，可以同时完成样品中常量、微量以及痕量杂质的测定；(3) ICP-AES法稳定性和测量精度良好，其分析精度可与湿式化学法媲美，且检出限较低，大多数元素的检出限可低于1mg/L；(4) ICP-AES法分析测试成本较低。产品的提炼纯度比较高。嘉定区防爆高纯度金属材料

铪具有熔点高、热中子截面高、高温耐腐蚀和抗氧化性好等优点，可应用于核反应堆控制棒材料、喷气式发动机和导弹上的结构材料，也可用来制造阀门、 喷管和其它耐高温零件；铪粉还可用作火箭推进剂，因此，金属铪，特别是高纯铪目前已引起国内外科技工作者的***关注，并进行了大量的研究。国内外高纯金属铪的制备方法主要有熔盐电解、碘化精炼、电子束熔炼和电子束悬浮区熔炼等。熔盐电解精炼法熔盐电解提纯金属铪，通常将海绵铪、镁还原或钙还原得到的金属铪烧结压块作为阳极，以不锈钢、钼或铂等为阴极，电解质通常为氯化物体系或氯化物一氟化物体系。熔盐电解精炼铪的原理是，在直流电作用下使电性正于铪的元素留在阳极中(如 铁、镍、钼、嘉定区防爆高纯度金属材料还有薄膜材料、光电材料等材料。

纯度很高、 所含杂质常以百万分之几计算的金属。由于它们的性能与一般工业纯金属***不同，因而获得了特殊用途。例如制备半导体材料用的锗、铟、镓等金属要 求达到99.999%以上的纯度。高纯金属还大量用于科研领域。纯度要求更高的金属 (其中杂质含量甚至降至十亿分之一以下) 称为 “超纯金属”。高纯金属(iHhgPuriytMetals)是现代多种高新技术的综合产物。随着半导体技术、宇航、无线电科技等的发展，对金属纯度要求越来越高，也**促进了高纯金属生产的发展。因为在金属未能达到一定纯度的情况下，金属特性往往会被杂质所掩盖，所以痕量杂质甚至超痕量杂质的存在都会影响金属的性能。例如过去钨曾被用作灯泡的灯丝，由于脆性而使处理上有困难，但在适当提纯之后，这种缺点即可以克服(钨丝也有掺杂及加工问题)。

中子活化分析法中子活化分析（NAA）的灵敏度高，准确度好，污染少，适用于高纯金属、地质样品、宇宙物质液体、固体等各类样品中超痕量金属的测定。特别是NAA的无损分析特性消除了多数其它痕量分析方法中可能破坏溯源链的**危险的环节一样品制备和溶解过程中可能带来的待测元素的污染或丢失。由于活化之后的放化操作可以加入载体和反载体以克服“**浓”行为和无需定量分离，因此由样品处理引起的污染和丢失危险远远低于其它方法。在约10n·cm·s的通量下，NAA从可测定周期表中的绝大多数元素，测定范围为1010g/g。NAA是目前***能够同时测定Cl、Br、I的***方法。为克服基体效应，进行预富集与方法分离对于NAA法也是非常必要的。高纯金属铬的特点是：主成分高（≥99.7%），杂质含量少。

随着材料加工技术水平的提高，金属的纯度在不断提高，但要制备***纯的金属是不可能的。所谓的“高纯”和“超纯”具有相对的含义，是指技术上达到的标准。由于科学技术的发展，也使得“高纯”和“超纯”的标准在不断升级。例如过去高纯金属的杂质为ppm级(即百万分之几)，超纯半导体材料的杂质为ppb级(十亿分之几)，而现在己经逐步发展到以ppb级(十亿分之几)和ppt级(一万亿分之几)来表示。同时各个金属的提纯难度不尽相同，如半导体材料中称9N以上为高纯,而难熔金属达6N己属超高纯每年都会参加先关的产品博览会。连云港进口高纯度金属材料

在高纯属生产过程中需要控制的主要杂质包括：碱金属、碱土金属、过渡族金属、放射性金属（U、Th）等。嘉定区防爆高纯度金属材料

电感耦合等离子体质谱法电感耦合等离子质谱法(InductivelyCoupledplasmaMassspcetromeytr，ICP-MS)是以ICP为离子源，结合质谱仪进行分析检测的无机质谱分析技术。ICP-MS综合了等离子体高离子化能力和质谱高分辨、高灵敏度及连续测定多元素的优点，检出限可低至0.001-0.1ng/mL，测定范围广，能达到5-6个数量级，是高纯金属中ng/g量级杂质元素痕量分析的重要方法。ICP-MS测定高纯金属中痕量杂质元素时，选择恰当的待测元素同位素是很重要的。一般而言，同量异位干扰比多原子干扰严重,氧化物干扰比其他多原子干扰严重。因此，选择同位素总的原则是：若无干扰，选择丰度比较高的同位素进行测定；如果干扰小，可用干扰元素进行校正；如果干扰严重，则选择丰度较低的没有干扰的同位素进行测定。目前在高纯金属分析测试中常用的方法有：外标法、内标法、标准加入法和同位素稀释法等。嘉定区防爆高纯度金属材料

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