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江门荧光寿命成像多少钱

来源: 发布时间:2023年01月13日

荧光寿命成像主要应用领域包括:用于样品分离,如利用不同染料荧光寿命的差异将不同组织、正常与病变细胞等有效分离。荧光团在光谱上非常相似(max 580 vs 573)无法分离,但它们在荧光寿命上差异明显。作为生物传感器,如评价药物/理化条件对细胞的影响、Ca+震荡等。充分拓展了寿光命成像的使用范围,实现可相互验证的多维度样品成像。实现真正的生物动力学分析和功能成像。荧光寿命成像的发展很好地弥补了基于强度成像的问题,对生物医学检测有着重要的意义。荧光寿命成像可以运用在哪些地方?江门荧光寿命成像多少钱

荧光寿命是指分子受到光脉冲激发后返回基态之前在激发平均停留的时间,处于激发态的荧光分子在从激发到基态的过程中发射荧光释放能量。荧光寿命取决于荧光分子所处的微环境,通过对样品荧光寿命的测量和成像可以定量获取样品的功能信息。荧光寿命成像技术有两种:时间域和频率域。(1)时域FLIM:需要脉冲光源,所以一般在双光子的系统上比较常见FLIM(荧光寿命成像Fluorescence Life-time imaging Microcopy简称FLIM)。(2)频域FLIM:需要一个相位调制的光源,有用LED调制的, FLIM对很多研究都有帮助,以下为荧光寿命成像FLIM的应用:1)细胞体自身荧光寿命分析;2)自身荧光相对荧光标记的有效区分;3)具有相同频谱性质的不同荧光标记的区分;4)活细胞内水介质的PH值测量;5)局部氧气浓度测量;6)活细胞内钙浓度测量;7)时间分辨Forster共振能量转移(FRET):纳米级尺度上的远程测量,环境敏感的FRET探针定量测量。江门荧光寿命成像多少钱荧光寿命的测量和荧光寿命成像主要有时间相关单光子计数法、门控探测法、条纹相机测量法、频闪技术方式。

荧光寿命成像技术用于表征DNA压缩和基因活性。研究团队发展了荧光寿命成像技术(FLIM),表征DNA压缩的动态过程,克服了以往方法的局限性。研究团队提出了两种精确测量DNA压缩程度的FLIM分析方法。第一种方法基于加入DNA的荧光探针的荧光寿命与其局部微环境折射率之间的逆二次方关系,荧光探针的寿命随DNA压缩密度而变化,从而可表征DNA压缩程度。第二种方法是将荧光标记的核苷酸整合到DNA链中,通过一种叫做荧光共振能量转移(FRET)的技术获得其荧光寿命值的变化,从而反映出DNA的压缩程度的动态变化过程。细胞培养结果证明,两种FLIM分析方法都可以成功表征DNA压缩的动态过程。

分子的荧光寿命在几纳秒至几百纳秒之间,因此,测量荧光寿命成像需要极快响应时间的探测器。如今主要存在两类方案:一是时域测量,由一束窄脉冲将荧光分子激发至较高能态S1,接着测量荧光的发射几率随时间的变化。典型的时域测量方法有TCSPC和时间门(TG)两种。TCSPC利用快速秒表测量激发脉冲与探测荧光之间的时间差。使用高重复脉冲激发光激发样品,在每一个脉冲周期内,较多激发荧光分子发出一个光子,然后记录光子出现的时刻,并在该时刻记录一个光子,再下一个脉冲周期内也是相同的情况,经过多次计数可以得到荧光光子随时间的分布曲线。相似的,TG则探测不同时间窗口内的荧光强度,通过曲线拟合得到荧光寿命。二是频域测量,对连续激发光进行振幅调制后,分子发出的荧光强度也会受到振幅调制,两个调制信号之间存在与荧光寿命相关的相位差,因此可以测量该相位差计算荧光寿命。荧光寿命成像基于荧光团的荧光寿命取决于其分子环境而并非浓度的事实。

荧光寿命成像的原理:如果分子环境刺激激发态衰变而不发射光子,则荧光强度会降低(淬灭)。荧光淬灭是一条单独的发射路径,因此在动力学上与荧光过程形成竞争关系。激发态存储现在可以通过一个以上的过程衰变,从而缩短荧光寿命。这种寿命的改变可用于收集分子环境的信息。一种特殊类型的淬灭是将激发能量以非辐射的方式传递到相邻的不同荧光染料中:“荧光共振能量转移”,FRET。此时,不只第1个荧光染料(供体)变暗,寿命变短,而且第二个荧光染料(受体)在“错误的”激发颜色下开始发光。由于这种效果的产生需要两种荧光染料(小于10 nm)的密切接触,因此将其用作研究分子相互作用的“分子标尺”。不同荧光基团激发态停时间不同,大多数生物荧光素的荧光寿命时间在 0.2 - 20 ns。福建红外荧光寿命成像报价

荧光寿命显微成像,可以定位不同的分子及浓度分布,在生物,材料,半导体领域具有重要的应用价值。江门荧光寿命成像多少钱

荧光寿命成像的优势是什么?荧光寿命成像具有不同于荧光强度成像的众多优点;不需要考虑跳色的影响,从而免去了计算和去除跳色杂质信号的麻烦;去除跳色杂质的准确性很大程度上依赖于信噪比、成像流程的设计和控制、以及跳色信号估算的算法,这些因素使得通过稳态光强度测量荧光寿命成像的精确度在很多时候受到质疑。稳态光强度的荧光寿命成像测量很容易受荧光标记光漂白或是激发光散射背景的影响,而这些因素对FLIM-FRET的测量影响相对较低。荧光寿命成像可以定量的区分参与FRET和没有参与FRET的分子数量,这样深入的定量分析是稳态光强度方法做不到的。江门荧光寿命成像多少钱

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