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南京常用X射线荧光光谱仪使用说明

来源: 发布时间:2022年05月15日

波长色散X射线荧光光谱仪的性能特点:采用特殊的光路系统,可满足不同基体中痕量元素的测量,提高信噪比,降低检出限。400W大功率光源使难以激发的痕量元素获得更高的计数率,比普通EDXRF仪器的元素检出限降低一个数量级,更加适合痕量元素的检测。采用数字多道技术,仪器可探测的计数率可高至100kcps,提高了仪器的测量精度,缩短了测量时间。油冷散热系统,保证了大功率X光源的散热,使仪器的运行更加稳定。光闸系统,保证X光源的稳定性,同时提升X光管使用寿命。抽真空系统,可以满足轻元素的测量。自动进样系统,可以一次连续检测十二个样品,大幅提高了测试人员的工作效率。X荧光光谱仪对古董断源断代、鉴定真伪的准确率能达到99%以上。南京常用X射线荧光光谱仪使用说明

X射线荧光光谱仪主要由激发源和探测系统构成。其原理就是:X射线管通过产生入射X射线,来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。超短光路设计:提高无卤检测分辨率,提高样品分析效率,降低光管功率,延长仪器使用寿命。模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率。e空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计。电路系统符合EMC、FCC测试标准。快拆卸样品台,换薄膜更方便。无锡荧光光谱仪怎么使用X荧光光谱仪能通过元素X荧光的强度和测试散射背景的比值,来修正测试样品的形状影响,获得较佳测试值。

X射线荧光光谱仪的物理原理:当材料暴露在短波长X光检查,或伽马射线,其组成原子可能发生电离,如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势,足以驱逐内层轨道的电子,然而这使原子的电子结构不稳定,在外轨道的电子会“回补”进入低轨道,以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源,光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此,物质放射出的辐射,这是原子的能量特性。X射线荧光光谱法在化学分析:主要使用X射线束激发荧光辐射,该方法作为非破坏性分析技术,并作为过程控制的工具,普遍应用于采掘和加工工业。原则上,较轻的元素,可分析出铍(z=4),但由于仪器的局限性和轻元素的低X射线产量,往往难以量化,所以针对能量分散式的X射线荧光光谱仪,可以分析从轻元素的钠(z=11)到铀,而波长分散式则为从轻元素的硼到铀。

X射线荧光光谱仪,是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被普遍用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学和艺术品,例如油画和壁画。XRF用X光或其他激发源照射待分析样品,样品中的元素之内层电子被击出后,造成核外电子的跃迁,在被激发的电子返回基态的时候,会放射出特征X光;不同的元素会放射出各自的特征X光,具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X光,仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象普遍用于元素分析和化学分析,特别是在研究金属,玻璃,陶瓷和建筑材料,以及在地球化学研究、法医学、电子产品进料品管(EURoHS)和考古学等领域,在某种程度上与原子吸收光谱仪互补,减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。X荧光光谱仪是测定材料发光性能的基本设备。

X荧光光谱仪产品特点:镀层检测,较多镀层检测可达5层。对于薄镀层分析精确,可以精确的分析小于1uin(0.025um)的镀层,可以准确分析0.2-0.5uin的金层。可同时进行选配RoHS检测功能,精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属,测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。可同时进行选配镀液药水分析功能,一分钟即可分析出药水内金,镍,铜等药水含量,分析精度为0.01ppm,可同时进行选配合金成分分析功能。开槽式超大可移动,专为线路板行业研制。激光定位可以连续自动多点程控测量;可以选配多准直器系统,单准直器/6个准直器/7个准直器。X射线荧光光谱仪由三个主要部分组成,分别起激发、色散和探测的作用。天津顺序式光谱仪怎么使用

X射线荧光光谱仪注意事项:不要将仪器对着空气做测试、不要用手拿着样品做测试。南京常用X射线荧光光谱仪使用说明

X荧光光谱仪引起样品误差的原因:样品物理状态不同,样品的颗粒度、密度、光洁度不一样;样品的沾污、吸潮,液体样品的受热膨胀,挥发、起泡、结晶及沉淀等。样品的组分分布不均匀,样品组分的偏析、矿物效应等。样品的组成不一致 引起吸收、增有效应的差异造成的误差;被测元素化学结合态的改变 样品氧化,引起元素百分组成的改变;轻元素化学价态不同时,谱峰发生位移或峰形发生变化引起的误差。制样操作,在制样过程中的称量造成的误差,稀释比不一致,样品熔融不完全,样品粉碎混合不均匀,用于合成校准或基准试剂的纯度不够等。南京常用X射线荧光光谱仪使用说明

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