紫外线老化测试是评估新材料耐紫外光照性能的测试方法，通常是在实验室中通过紫外加速老化试验箱进行测试。在短短几周或几个月内,通过紫外老化试验能够获得可再现的、可靠的老化测试数据；其短波长紫外光照和冷凝循环系统可逼真地模拟阳光、露水和雨水等对材料的破坏作用。紫外老化试验主要模拟阳光中的紫外光对产品产生的劣化效应。同时它还可以再现雨水和露水所产生的破坏；通过将待测材料暴露在经过控制的阳光和湿气的交互循环中，同时提高温度的方式来进行试验；采用紫外线荧光灯模拟阳光，同时还可以通过冷凝或喷淋的方式模拟湿气影响。江苏老化炉用高亮背光模组。安徽实验用背光联系方式
蓝光并不是***能到达眼底引起视网膜感光细胞和视杆细胞及色素上皮层（PRE）细胞损伤的波段。蓝光的不合理过滤会影响人类的暗视力、生理节律以及色觉平衡。通过合理设计的发光二极管（LED）在内的普通照明光源，蓝光危害可以降低到无危险类或者低危险类水平，可在日常生活安全使用。蓝光防护应主要用于高亮度光源的环境以及避免直视高亮度的点光源，而对于较短波长的蓝光（400nm～440nm）和较长波长的蓝光440nm～500nm可选择性过滤。蓝光对眼睛的危害程度因年龄而异。年纪较大的人群，晶体会随着年龄变大而变黄；而孩子对强烈的蓝光敏感，会造成视力减退，甚至发生眼睛疾病。值得注意的是，实际生活中我们一般不会直视LED灯，但直视手机和电脑屏幕的时间会很长，只有养成良好的用眼习惯才能有效减少蓝光对眼睛的损伤。广西曲面高亮背光模组台老化炉用高亮背光模组直销。
mura本来是一个日本字,随着日本的液晶显示器在世界各地的发展,这个字在显示器界就变成一个全世界都可以通的文字。mura？是什么？简单来说mura是指显示器亮度不均匀,造成各种痕迹的现象。为什么会有Mura产生？其实，Mura产生的主要原因就是视觉上对于感受到的光源有不同的频率响应而感觉到颜色的差异。一、CF制程：膜厚因为膜厚的Coating不均，会导致产生色不均之现象。Coating在涂布时如果喷嘴有阻塞的情况，即会造成VerticalMura。二、TFT制程：OverLapTFT的主要构成为层与层之间的相互交叠，若某一层在制作过程中发生偏移就会产生异常，可能影响TFT的特性而造成Mura。
简单来说mura是指液晶屏幕亮度和色度不均匀,造成各种痕迹的现象。为什么会有Mura产生？主要有以下因素：CF制程因为膜厚的Coating不均，会导致产生色不均之现象。Coating在涂布时如果喷嘴有阻塞的情况，即会造成VerticalMura。TFT制程OverLapTFT的主要构成为层与层之间的相互交叠，若某一层在制作过程中发生偏移就会产生异常，可能影响TFT的特性而造成Mura。LCD制程CellGapCellGap不均，会造成偏高或偏低阶的Mura现象。Spacer散布的均匀性及spacer本身原材料的均匀性都有可能影响Mura的产生。Roller因机台Roller的压力过大或是轮子上沾附异物，造成面板经过滚轮后而产生丸状或条状Mura。Stage因机台Stage吸力过大而造成吸附后形成StageMura，或Stage的平整度不佳当经过制程机台后，亦有可能产生相关性的Mura。LCM制程Roller因机台Roller的压力过大或是滚轮上沾附异物，造成面板经过滚轮后而产生丸状或条状Mura。Vacuum因Stage吸力过大而造成吸附后形成StageMura。Black-Light：B/L本身膜材不良或其他来料造成异常亦会形成Mura现象。偏光片偏光片本身来料不良，造成偏贴后形成Mura。人为因素因拿取Panel方式不当，手指按压到面板的力量过大，易造成丸状Mura。老化炉用高亮背光模组台。
AOI检测设备原理：当自动检测时，AOI检测设备机器通过高清CCD摄像头自动扫描被检测产品，采集图像，测试的检测点与数据库中的合格的参数进行比较，经过图像处理，检查出目标产品上的缺陷，并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来，供维修人员修整和工程人员改善工艺。AOI检测设备的大致流程是相同的，多是通过图形识别法。即将AOI系统中存储的标准数字化图像与实际检测到的图像进行比较，从而获得检测结果。例如，检测某个焊点时，按照一个完好的焊点建立起标准数字化图像，与实测图像进行比较，检测结果是通过还是不通过，取决于标准图像、分辨力和所用检测程序。图形识别中会用到各种算法，如求黑占白的比例、彩色、合成、求平均、求和、求差、求平面、求边角等。AOI的光线照射有白光和彩色光两类设备，白光是用256层次的灰度，彩色是用红光，绿光，蓝光，光线照射至焊锡/元器件的表面，之后光线反射到镜头中，产生二维图像的三维显示，来反映焊点/元器件的高度和色差。AOI从镜头数量来说有单镜头和多镜头，这只是技术方案实现的一种选择，很难说那种方式就一定好，因为单镜头通过多个光源的不同角度照射也能得到很好的检测图像。浙江实验用高亮背光模组。广西专业背光模组台
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液晶显示模块（LiquidCrystalModule，LCM）的生产过程中，从印刷电路板整合进液晶显示面板（PCBI）的制程到各个模块的组装（Assembly），在待组装物、设备或是人员之间，不可避免都会有移动及接触与再分离的行为出现，因此在待组装物上必然会发生静电放电（ElectrostaticsDischarge，ESD）的现象。虽然在环境温度及相对湿度与接地都会做有效的管控，但对一些已知会产生ESD的工作点还是需要加以注意。特别是在LCM的玻璃偏光板（Polarizer）表面，都会有贴附一层防止刮伤的保护膜，在生产过程中必须移除这层保护膜，往往造成许多的静电电荷（ElectrostaticCharge）大量残存在液晶玻璃面板内的显示组件与集成电路中，继而在后续的组装程序上，出现危险的组件储存电荷模式（ChargedDeviceModel，CDM）之ESD或电性过压（ElectricalOverstress，EOS）现象，进而造成半导体组件内部电路的破坏。部分已受ESD内伤的产品，有时还会到客户端才又被检测出来，后续严重的客退问题又造成产品成本的一大负担。安徽实验用背光联系方式