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常见高纯度金属材料材料分类

来源: 发布时间:2024年05月14日

但是由于ICP-MS主要采用溶液进样,容易引入外界污染,液体进样带来的基体干扰也比较严重,空白值较高,前处理时间较长,样品的整个分析速度难以完全令人满意。采用一些分离富集手段和一些前处理方式,能够更好地使其满足高纯金属样品的分析测试需求。如激光烧蚀样品技术(LA)与ICP-MS的联用能够**减少了样品前处理的时间。然而,由于缺少相应的固样标准样品,该法的精密度和准确度还有待于进一步的提高,目前多用于快速分析或成分简单、分布均一的样品。通过与离子色谱(IC)联用分离高纯金属基体,并采用膜去溶装置吹扫溶剂蒸汽,能够有效降低相关杂质元素的检出限。此外,使用流动注射进样(FI)能够克服ICP-MS要求可溶性固体(TDS)含量低的缺点,还能克服基体效应,是一种非常好的分析测试手段。离子化合物:钠是金属元素,氯是非金属元素。常见高纯度金属材料材料分类

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随着材料加工技术水平的提高,金属的纯度在不断提高,但要制备***纯的金属是不可能的。所谓的“高纯”和“超纯”具有相对的含义,是指技术上达到的标准。由于科学技术的发展,也使得“高纯”和“超纯”的标准在不断升级。例如过去高纯金属的杂质为ppm级(即百万分之几),超纯半导体材料的杂质为ppb级(十亿分之几),而现在己经逐步发展到以ppb级(十亿分之几)和ppt级(一万亿分之几)来表示。同时各个金属的提纯难度不尽相同,如半导体材料中称9N以上为高纯,而难熔金属达6N己属超高纯山东进口高纯度金属材料有机会去贵司参观学习。

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ICP-AES的不足之处在于:(1) ICP-AES法的光谱干扰较严重,谱线与谱图也较为复杂;(2) ICP-AES法的检出限还不够低,不能完全满足4N及其以上高纯金属的分析测试需要;(3)ICP-AES法采用液体溶样进样方式,容易带入污染;(4) ICP-AES法的基体干扰较严重,特别是许多高纯样品的分析测试需要分离基体,使得整个分析测试过程较为繁琐。虽然ICP-AES法直接检测较高纯度的高纯金属中痕量杂质元素目前还有一定困难,但其仍然是高纯金属杂质元素测定**常用的方法之一。目前通过将微柱分离、电热蒸发(ETV)、超声雾化等技术与ICP-AES联用,能满足部分高纯样品的分析测试需要

金属的纯度是相对于杂质而言的,广义上杂质包括化学杂质(元素)和物理杂质(晶体缺陷)。物理杂质主要是指位错及空位等,而化学杂质是指基体以外的原子以代位或填隙等形式掺入。但只有当金属纯度达到很高的标准时(如纯度9N以上的金属),物理杂质的概念才是有意义的,所以生产上一般以化学杂质的含量作为评价金属纯度的标准,即以主金属减去杂质总含量的百分数表示,常用N(nine的***个字母)**,如99.9999%写为6N,99.99999%写为7N。目前高纯金属纯度的表示方式主要有两种:一种是以材料的用途来表示,如“光谱纯”、“电子级纯”等;另一种是以某种特征来表示,例如半导体材料用载流子浓度,即1立方厘米的基体元素中起导电作用的杂质个数来表示,而金属主要用剩余电阻率RRR和纯度级R表示纯度。还有薄膜材料、光电材料等材料。

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高纯金属铬的特点是:主成分高(≥99.7%),杂质含量少,特别是气体氧、硫、氮含量低(C 0.025%、O 0.04%、N 0.003%、S 0.002%)。高纯金属铬主要用于电气的触头,其使用周期长,不发生打弧粘连现象;可用超级合金作添加剂生产飞机涡轮机的叶片,耐高温、抗氧化、抗振动、抗蠕变性能强;也用于做各种等离子和电子束溅喷的铬靶及电子行业的半导体、芯片等,在特色玻璃加工行业也得到广泛应用。国内高纯金属铬的生产厂家主要为沈宏公司,由于其采用的生产工艺不同,因此,其生产的金属铬中杂质硅含量较低,在0.1%以下,可以满足国内外市场对低硅金属铬的需求总之,ICP-MS法是目前高纯金属痕量杂质分析检测中应用多的分析检测方法。江阴高纯度金属材料

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高纯金属材料的纯度一般使用差减法计算。差减法计算的杂质元索主要是金属杂质元素,并不包括C、O、N、H等间隙元索。但事实上,间隙元素的含量也是高纯金属材料分析检测的重要指标,一般需要单独列出。所以通常几个“9”(N的高纯金属,并不能真正地表达纯度,只有提供杂质元素和间隙元素的种类及其含量才能明确表达高纯金属的纯度水平。在高纯属生产过程中需要控制的主要杂质包括:碱金属、碱土金属、过渡族金属、放射性金属(U、Th)等。高纯金属材料化学分析是从高纯金属材料中获取化学组成、存在形态和信息的技术,为工业科技和生产服务,也是衡量工业科技和生产水平的重要标志。所以高纯金属的纯度检测应当以实际应用需要作为主要标准。例如目前工业电解钻的纯度一般接近99.99%,而且检测的杂质元素种类较少。常见高纯度金属材料材料分类

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