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锡山区国产高纯度金属材料

来源: 发布时间:2024年05月11日

高纯金属铬的特点是:主成分高(≥99.7%),杂质含量少,特别是气体氧、硫、氮含量低(C 0.025%、O 0.04%、N 0.003%、S 0.002%)。高纯金属铬主要用于电气的触头,其使用周期长,不发生打弧粘连现象;可用超级合金作添加剂生产飞机涡轮机的叶片,耐高温、抗氧化、抗振动、抗蠕变性能强;也用于做各种等离子和电子束溅喷的铬靶及电子行业的半导体、芯片等,在特色玻璃加工行业也得到广泛应用。国内高纯金属铬的生产厂家主要为沈宏公司,由于其采用的生产工艺不同,因此,其生产的金属铬中杂质硅含量较低,在0.1%以下,可以满足国内外市场对低硅金属铬的需求宇航、无线电科技等的发展,对金属纯度要求越来越高。锡山区国产高纯度金属材料

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纯度很高、 所含杂质常以百万分之几计算的金属。由于它们的性能与一般工业纯金属***不同,因而获得了特殊用途。例如制备半导体材料用的锗、铟、镓等金属要 求达到99.999%以上的纯度。高纯金属还大量用于科研领域。纯度要求更高的金属 (其中杂质含量甚至降至十亿分之一以下) 称为 “超纯金属”。高纯金属(iHhgPuriytMetals)是现代多种高新技术的综合产物。随着半导体技术、宇航、无线电科技等的发展,对金属纯度要求越来越高,也**促进了高纯金属生产的发展。因为在金属未能达到一定纯度的情况下,金属特性往往会被杂质所掩盖,所以痕量杂质甚至超痕量杂质的存在都会影响金属的性能。例如过去钨曾被用作灯泡的灯丝,由于脆性而使处理上有困难,但在适当提纯之后,这种缺点即可以克服(钨丝也有掺杂及加工问题)。锡山区国产高纯度金属材料公司的福利待遇很是不错的。

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电感耦合等离子体质谱法电感耦合等离子质谱法(InductivelyCoupledplasmaMassspcetromeytr,ICP-MS)是以ICP为离子源,结合质谱仪进行分析检测的无机质谱分析技术。ICP-MS综合了等离子体高离子化能力和质谱高分辨、高灵敏度及连续测定多元素的优点,检出限可低至0.001-0.1ng/mL,测定范围广,能达到5-6个数量级,是高纯金属中ng/g量级杂质元素痕量分析的重要方法。ICP-MS测定高纯金属中痕量杂质元素时,选择恰当的待测元素同位素是很重要的。一般而言,同量异位干扰比多原子干扰严重,氧化物干扰比其他多原子干扰严重。因此,选择同位素总的原则是:若无干扰,选择丰度比较高的同位素进行测定;如果干扰小,可用干扰元素进行校正;如果干扰严重,则选择丰度较低的没有干扰的同位素进行测定。目前在高纯金属分析测试中常用的方法有:外标法、内标法、标准加入法和同位素稀释法等。

对贵金属而言,用中子活化分析灵敏度比较高的是Ir、Au和Rh。该方法的检出限很低,可以和CIP-MS法媲美。用试金一中子活化和ICP-MS分析地质样品中铂族元素,发现用中子活化分析Ir的检出限高十倍,其余的比IC-MS低,两种方法可以互补。但是核辐射对人体有害,且需要小型反应堆,设备受到地域限制,使用难以普及。原子发射光谱法原子发射光谱法(AES)是测定高纯金属或半导体材料中痕量杂质的主要分析方法之一,常采用预富集与AES测定联用技术。这种联用技术既保持了AES同时检测多元素的特点,又克服了基体效应和复杂组分的干扰,也便于引进行利于痕量元素激发的缓冲剂,从而提高了检测灵敏度。广义上杂质包括化学杂质(元素)和物理杂质(晶体缺陷)。

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随着材料加工技术水平的提高,金属的纯度在不断提高,但要制备***纯的金属是不可能的。所谓的“高纯”和“超纯”具有相对的含义,是指技术上达到的标准。由于科学技术的发展,也使得“高纯”和“超纯”的标准在不断升级。例如过去高纯金属的杂质为ppm级(即百万分之几),超纯半导体材料的杂质为ppb级(十亿分之几),而现在己经逐步发展到以ppb级(十亿分之几)和ppt级(一万亿分之几)来表示。同时各个金属的提纯难度不尽相同,如半导体材料中称9N以上为高纯,而难熔金属达6N己属超高纯这家公司目前经营的有高纯度金属材料、化合物材料。锡山区国产高纯度金属材料

化合物为由二种或二种以上不同元素所组成的纯净物。锡山区国产高纯度金属材料

但是由于ICP-MS主要采用溶液进样,容易引入外界污染,液体进样带来的基体干扰也比较严重,空白值较高,前处理时间较长,样品的整个分析速度难以完全令人满意。采用一些分离富集手段和一些前处理方式,能够更好地使其满足高纯金属样品的分析测试需求。如激光烧蚀样品技术(LA)与ICP-MS的联用能够**减少了样品前处理的时间。然而,由于缺少相应的固样标准样品,该法的精密度和准确度还有待于进一步的提高,目前多用于快速分析或成分简单、分布均一的样品。通过与离子色谱(IC)联用分离高纯金属基体,并采用膜去溶装置吹扫溶剂蒸汽,能够有效降低相关杂质元素的检出限。此外,使用流动注射进样(FI)能够克服ICP-MS要求可溶性固体(TDS)含量低的缺点,还能克服基体效应,是一种非常好的分析测试手段。锡山区国产高纯度金属材料

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