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来源: 发布时间:2024年04月23日

电感耦合等离子体原子发射光谱法(InduetivelyCoupledplasmaAtomieEmissionSepcotrmetyr,ICP-AES)是根据不同元素的原子或离子在热激发或电激发下发射特征电磁辐射进行元素定性或定量检测的方法。随着ICP(电感祸合等离子体)光源技术的发展,ICP-AES己成为痕量元素分析检测***的手段之一,目前己广泛应用于半导体工业、新材料、高纯试剂、医学检测等众多行业中,在高纯金属分析检测领域也有着广泛的应用。ICP-AES法具有以下优点:(1) ICP-AES法可同时测定多个元素;(2) ICP-AES法测量的线性范围可达5-6个数量级,可以同时完成样品中常量、微量以及痕量杂质的测定;(3) ICP-AES法稳定性和测量精度良好,其分析精度可与湿式化学法媲美,且检出限较低,大多数元素的检出限可低于1mg/L;(4) ICP-AES法分析测试成本较低。像氯化氢这样以共用电子对形成分子的化合物,叫共价化合物。本地高纯度金属材料商家

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中子活化分析法中子活化分析(NAA)的灵敏度高,准确度好,污染少,适用于高纯金属、地质样品、宇宙物质液体、固体等各类样品中超痕量金属的测定。特别是NAA的无损分析特性消除了多数其它痕量分析方法中可能破坏溯源链的**危险的环节一样品制备和溶解过程中可能带来的待测元素的污染或丢失。由于活化之后的放化操作可以加入载体和反载体以克服“**浓”行为和无需定量分离,因此由样品处理引起的污染和丢失危险远远低于其它方法。在约10n·cm·s的通量下,NAA从可测定周期表中的绝大多数元素,测定范围为1010g/g。NAA是目前***能够同时测定Cl、Br、I的***方法。为克服基体效应,进行预富集与方法分离对于NAA法也是非常必要的。哪些是高纯度金属材料哪家好已经成功服务于上百家企业了。

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但是由于ICP-MS主要采用溶液进样,容易引入外界污染,液体进样带来的基体干扰也比较严重,空白值较高,前处理时间较长,样品的整个分析速度难以完全令人满意。采用一些分离富集手段和一些前处理方式,能够更好地使其满足高纯金属样品的分析测试需求。如激光烧蚀样品技术(LA)与ICP-MS的联用能够**减少了样品前处理的时间。然而,由于缺少相应的固样标准样品,该法的精密度和准确度还有待于进一步的提高,目前多用于快速分析或成分简单、分布均一的样品。通过与离子色谱(IC)联用分离高纯金属基体,并采用膜去溶装置吹扫溶剂蒸汽,能够有效降低相关杂质元素的检出限。此外,使用流动注射进样(FI)能够克服ICP-MS要求可溶性固体(TDS)含量低的缺点,还能克服基体效应,是一种非常好的分析测试手段。

ICP-AES的不足之处在于:(1) ICP-AES法的光谱干扰较严重,谱线与谱图也较为复杂;(2) ICP-AES法的检出限还不够低,不能完全满足4N及其以上高纯金属的分析测试需要;(3)ICP-AES法采用液体溶样进样方式,容易带入污染;(4) ICP-AES法的基体干扰较严重,特别是许多高纯样品的分析测试需要分离基体,使得整个分析测试过程较为繁琐。虽然ICP-AES法直接检测较高纯度的高纯金属中痕量杂质元素目前还有一定困难,但其仍然是高纯金属杂质元素测定**常用的方法之一。目前通过将微柱分离、电热蒸发(ETV)、超声雾化等技术与ICP-AES联用,能满足部分高纯样品的分析测试需要高纯金属材料的纯度一般使用差减法计算。

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铪具有熔点高、热中子截面高、高温耐腐蚀和抗氧化性好等优点,可应用于核反应堆控制棒材料、喷气式发动机和导弹上的结构材料,也可用来制造阀门、 喷管和其它耐高温零件;铪粉还可用作火箭推进剂,因此,金属铪,特别是高纯铪目前已引起国内外科技工作者的***关注,并进行了大量的研究。国内外高纯金属铪的制备方法主要有熔盐电解、碘化精炼、电子束熔炼和电子束悬浮区熔炼等。熔盐电解精炼法熔盐电解提纯金属铪,通常将海绵铪、镁还原或钙还原得到的金属铪烧结压块作为阳极,以不锈钢、钼或铂等为阴极,电解质通常为氯化物体系或氯化物一氟化物体系。熔盐电解精炼铪的原理是,在直流电作用下使电性正于铪的元素留在阳极中(如 铁、镍、钼、宇航、无线电科技等的发展,对金属纯度要求越来越高。哪些是高纯度金属材料哪家好

又假如一纯质可以分解为二种或二种以上之质,则原来之质必为化合物。本地高纯度金属材料商家

电感耦合等离子体质谱法电感耦合等离子质谱法(InductivelyCoupledplasmaMassspcetromeytr,ICP-MS)是以ICP为离子源,结合质谱仪进行分析检测的无机质谱分析技术。ICP-MS综合了等离子体高离子化能力和质谱高分辨、高灵敏度及连续测定多元素的优点,检出限可低至0.001-0.1ng/mL,测定范围广,能达到5-6个数量级,是高纯金属中ng/g量级杂质元素痕量分析的重要方法。ICP-MS测定高纯金属中痕量杂质元素时,选择恰当的待测元素同位素是很重要的。一般而言,同量异位干扰比多原子干扰严重,氧化物干扰比其他多原子干扰严重。因此,选择同位素总的原则是:若无干扰,选择丰度比较高的同位素进行测定;如果干扰小,可用干扰元素进行校正;如果干扰严重,则选择丰度较低的没有干扰的同位素进行测定。目前在高纯金属分析测试中常用的方法有:外标法、内标法、标准加入法和同位素稀释法等。本地高纯度金属材料商家

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