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天津表面绝缘电阻测试系统CAF测试系统价格

来源: 发布时间:2023年01月12日

CAF是指印制线路板内部在电场作用下跨越非金属基材而迁移传输的导电性金属盐构成的电化学迁移。它通常发生在印制线路板基材中沿玻璃纤维到树脂的界面上,从而导致两个相邻的导体之间绝缘性能下降甚至造成短路(见图1),是印制线路板产生电气故障的一个重大而且具有潜在危险的根源。随着电子设备在提高功能和性能的同时也向小型化、轻量化迅速发展,印制线路板的线路也越来越细,间距越来越小,绝缘层越来越薄,钻孔尺寸也向更小更密的方向发展,并且由于信息传输速度的提升,使得印制板所承受的工作温度也在不断地上升。常州中策仪器有限公司是一家集研发、制造、营销于一体的****,欢迎咨询!天津表面绝缘电阻测试系统CAF测试系统价格

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目前**常使用是萃取溶液电阻率(ROSE)测试法。该方法参考IPC-TM-650 2.3.25标准[3],以75%异丙醇加25%去离子水(体积比)为测试溶液,冲洗车用PCB表面并使残留在板面上的污染物溶解到测试溶液中。由于这些污染物中的正负离子使测试溶液的电阻率降低,溶进测试液中的离子越多其电阻率降低得也越多,二者具有反比函数关系。正是利用这种函数关系,通过测定测试液冲洗前后的电阻值及所使用测试液的体积,可以计算出PCB表面残留离子的含量,并规定以每平方厘米NaCl当量来表示,即μgNaCl/cm2。一些主要的汽车零部件供应商的测试要求具体如表1所示。

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CAF的产生过程可以分两步来研究,即离子迁移通道的形成和阳极丝的增长过程。(1)化学键水解在高温高湿的条件下,树脂和玻纤之间的附着力出现劣化,并促成玻纤表面的硅烷偶联剂产生水解,从而导致了电化学迁移路径(即铜离子迁移的通道)的产生。(2)导电阳极丝增长离子迁移通道产生后,如果此时在两个绝缘孔之间存在电势差,则在电势较高的阳极上的铜会被氧化为铜离子,铜离子在电场作用下向电势较低的阴极迁移,在迁移的过程中,与板材中的杂质离子或OH-结合,生成不溶于水的导电盐,并沉积下来,使两绝缘孔之间的电气间距急剧下降,甚至直接导通形成短路。在阳极、阴极的电化学反应如图2所示。常州中策仪器永远是您可信赖的朋友和合作伙伴始终期待与您一起共享成功;天津表面绝缘电阻测试系统CAF测试系统价格

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CAF失效模式简介CAF现象一般发生在PTH孔与PTH孔、PTH孔与线、线与线、层与层之间。为准确的分析失效原因,必须了解线路板的内部结构,再根据结构制定合适的分析方法。常见的四种CAF失效模式如图5所示。查找失效点由于CAF失效引起的短路通常很微小,所以要确认失效点,以便提高CAF失效分析的成功率。通常使用半分法来锁定失效区域,步骤如下:(1)先把一个单元的分成两个小单元;(2)用高阻计分别对这两个小单元进行绝缘电阻测试;(3)对阻值偏小的单元再切割。以此类推,直到找出失效点。使用半分法找到CAF失效短路区域实例图如图6所示。天津表面绝缘电阻测试系统CAF测试系统价格

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