常州中策仪器有限公司创建于1999年，是一家集研发、制造、营销于一体的****。公司位于环境优美的开发区------常州市高新技术产业开发区。中策仪器始终专注于各种电子测试与测量仪器的研究与发展，公司以技术创新为先导，以品质创造未来为发展理念，以市场需求为发展基础。在充分消化吸收国内、外先进技术的基础上不断打造“中策仪器”的较高的品质特色。中策仪器针对手机中微型扬声器和振动电机的寿命测试，研发了系列化的微型电声器件可靠性寿命试验设备，产品覆盖了手机扬声器、汽车扬声器、蓝牙音箱、蓝牙耳机、手机振动电机的多种测试功能。为众多的国内电声器件制造商和手机制造商提供了可靠的试验设备和方案。常州中策仪器永远是您可信赖的朋友和合作伙伴，始终期待与您一起共享成功！上海微间距IC封装吸湿特性CAF测试系统操作
㈠灵活的、多通道分组测试能力可根据测试不同的需求，建立多组测试模式，在1-4个环境试验箱里测试不同的样品㈡宽范围的偏置电压、测试电压测试电压为1000V，从1.0V-1000V可任意设置，并可在试验中实现偏置电压的正、负翻转㈢实时电流检测能力在试验过程中，高达10次/秒的微电流监测模块，可绘制通道间出现离子迁移过程的工作状态，多用于材料分析㈣多种绝缘阻值的阀值判定能力具有多种绝缘阻值下降到设定阀值的判定条件，例如单次或多次触发绝缘电阻阀值，或低于阀值运行时间，判定后断开测试㈤符合国际、行业内有关绝缘电阻测试标准要求IPC-TM-6502.5.10/2.6.11/2.6.3.7/2.6.14IEC-61189-5IEC1086ISO-9455-17等㈥面向国内客户开发的测试系统软件充分满足不同客户的独特测试要求，带有数据分析功能，使测试软件使用更方便、更完善上海微间距IC封装吸湿特性CAF测试系统操作常州中策仪器有限公司拥有CAF测试系统；若有需要欢迎来电噢。
ECM/SIR与CAF的重要性由于介电层变薄、线路及孔距变密是高密度电子产品的特性，而大多数的高阶电子产品也需要较高的信赖度，故越来越多的产品被要求进行ECM/SIR/CAF测试，如航空产品、汽车产品、医疗产品、服务器等，以确保产品在相对恶劣的使用条件下的寿命与可靠性；离子迁移既然是绝缘信赖度的***，因此高密度电子产品都十分在乎及重视材料的吸水性及水中不纯物的控管，因为这些正是离子迁移的重要元凶。例如：加水分解性氯、电镀液中的盐类、铜皮表面处理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了这些控管，导致ECM或CAF的生成，便会造成产品在使用寿命及电性功能上的障碍；藉着控制卤素及金属盐类的含量、铜皮上的铬含量、树脂中的氯含量、表面清洁度（防焊前处理），这些对绝缘劣化影响很大的项目，可以大幅提升高密度电路板的信赖性。
随着集成电路和微电子技术的飞速发展，电子产品的体积越来越小，PCB也向更轻、薄、短、小发展。层间介质层厚度更薄，布线更密，孔壁间距更小，并且在进一步微细化中。在这样的层间、布线、孔密度下，PCB的绝缘性能受到越来越多的关注。如何在这样微细的产品上，保持其在整个寿命周期内的绝缘性能，是业内所有PCB制造商所面临的问题之一。阳极导电丝（CAF）是近十年来十分热门的绝缘劣化失效，当PCBA在高温高湿的环境下带电工作时，在两绝缘导体间有可能会产生沿着树脂和玻纤的界面生长的CAF，**终导致绝缘不良，甚至短路失效。常见的CAF失效有三种，即分别发生在孔到孔、孔到线、线到线之间的失效情况中策仪器永远是您可信赖的朋友和合作伙伴始终期待与您一起共享成功！
平均CAF失效时间的分解分析从上面的一系列试验中，可以证明水解时间和电化学迁移时间之间是相互独立的，水解时间和电化学迁移时间互相没有影响：①未施加偏压的情况下，水解过程也可进行；在施加外加偏压的情况下，水解速度无明显加快或延缓；水解时间与外加偏压无关。②指定板材、孔壁间距下的水解时间是一定的，且随着孔壁间距的上升而近似成正比关系上升。因此平均CAF失效时间可以拆分成水解时间和电化学迁移时间分别进行分析和试验。那么以下公式应是成立的：平均CAF失效时间（MTF）=水解时间（T1）+电化学迁移时间（T2）。当外加偏压较大（100V以上）时，电化学迁移速度快于水解速度，平均CAF失效时间（MTF）主要取决于水解时间（T1），接近于材料A在指定孔壁间距下的水解时间；当外加偏压较小（10V以下）时，水解速度快于电化学迁移速度，平均CAF失效时间（MTF）主要取决于电化学迁移时间（T2）。而水解时间（T1）不受外加偏压影响，电化学迁移时间（T2）受外加偏压影响，因此图5中的曲线随着外加偏压的变化呈现两段趋势。中策仪器有限公司拥有CAF测试系统，若有需要欢迎来电。上海微间距IC封装吸湿特性CAF测试系统操作
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首先，我们使用显微镜对这两个孔之间的表面进行观察，没有发现异常情况。接下来，对这两个孔进行了剖切，边研磨边用显微镜观察两个孔之间的材料中是否存在异常。在孔的中心位置附近，通过显微镜看到了明显的CAF（导电阳极丝）连接了两个孔，CAF的形成是导致这两个孔绝缘电阻偏小的主要原因。客户通过我们的分析报告，找到了产品失效的真正原因，为后期质量的改进提供了可靠的依据。该客户后续针对该款产品所用的板材进行了整改，并且重新调整制程工艺，调节了两个孔之间的距离，自此以后，该款产品的不良率降低了很多，为公司节约了大量的成本，也提高了公司声誉。上海微间距IC封装吸湿特性CAF测试系统操作
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