***的测量对象半导体元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估。介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数的损耗角评估。磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估。半导体材料：半导体材料的介电常数,导电率和C-V特性。液晶材料：液晶单元的介电子常数、弹性常数等C-V特性。多种元件、材料特性测量能力多参数混合显示功能多参数同时显示可满足复杂元件各种分布参数的***观察与评估要求，而不必反复切换测量参数。电感L和其直流电阻DCR可以同时测量显示，显著提高电感测量效率。中策仪器永远是您可信赖的朋友和合作伙伴，始终期待与您一起共享成功；上海元器件参数测量数字电桥价格
[1] 从图2中的线路及工作原理可见，数字电桥只是继承了电桥传统的称呼。实际上它已失去传统经典交流电桥的组成形式，而是在更高的水平上回到以欧姆定律为基础的测量阻抗的电流表、电压表的线路和原理中。数字电桥可用于计量测试部门对阻抗量具的检定与传递，以及在一般部门中对阻抗元件的常规测量。很多数字电桥带有标准接口，可根据被测值的准确度对被测元件进行自动分档；也可直接连接到自动测试系统，用于元件生产线上对产品自动检验，以实现生产过程的质量控制。80年代中期，通用的误差低于0.1%的数字电桥有几十种。数字电桥正向着更高准确度、更多功能、高速、集成化以及智能化程度方面发展。***的测量对象半导体元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估。介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数的损耗角评估。磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估。半导体材料：半导体材料的介电常数,导电率和C-V特性。液晶材料：液晶单元的介电子常数、弹性常数等C-V特性。多种元件、材料特性测量能力上海元器件参数测量数字电桥价格常州中策仪器有限公司主营数字电桥，若有需要，欢迎来电哦；
240×128点阵图形LCD显示人性化操作界面，操作简单极高的测量稳定性、准确性RS-232C，GPIB接口（选件）ZC2816A：50Hz-200KHz，共1.2万个典型测试频率点ZC2816B：50Hz-200KHz，共37个典型测试频率10mVrms-2.0Vrms可编程测试电平30Ω/100Ω可选信号源输出阻抗**快快速可达32ms/次内建比较器，11档分选及档计数12组内部仪器设定储存六位读数分辨率精确的负载校准功能测试电平监视功能键盘锁定功能HANDLER接口ZC2816A精密LCR数字电桥、
阻抗的测量归结为两个正弦信号的相位差的测量。在LCR数字电桥内部，可以使用相敏检波器（PSD）分别测出Vx和Vr对应于某一参考相量的同相量分量和正交分量，然后经模数转换（A/D）器将其转化为数字量，再由计算机进行复数运算，即可得到组成被测阻抗Zx的电阻值与电抗值。数字电桥只是继承了电桥传统的称呼。实际上它已失去传统经典交流电桥的组成形式，而是在更高的水平上回到以欧姆定律为基础的测量阻抗的电流表、电压表的线路和原理中。常州中策仪器有限公司主营数字电桥，若有需要欢迎来电哦。
ZC2816A精密LCR数字电桥ZC2816A/B型精密LCR数字电桥是本公司推出的新一代元件参数测试仪器，该产品集成了本公司多年元件测试的成熟经验，运用了本领域的测试技术。强大的测试功能和优越的测量性能使该产品挤身于国际同类先进水平，结合以低廉的价格将给予广大客户超值的享受。该产品可提供稳定的6位测试分辨率，50Hz-200kHz的频率范围、0.01V-2.0V可编程信号电平、高达30次/秒的测量速度、9级精细量程、恒定的30Ω或100Ω源内阻及灵活人性的操作方式，可满足生产线质量保证、进货检验及实验室高精确度测量要求。常州中策仪器有限公司主营数字电桥，若有需要，欢迎来电。上海元器件参数测量数字电桥价格
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精确的陶瓷电容测量1kHz和1MHz是陶瓷材料和电容器的主要测试频率。陶瓷电容器具有低损耗值的特征，同时其容量、损耗施加之交流信号会产生明显的变化。仪器具有宽频测试能力并可提供良好的准确度，六位分辨率和自动电平控制（ALC）功能等，中以满足陶瓷材料和电容器可靠、准确的测试需要。液晶单元的电容特性测量电容－电压（C－Vac)特性是评价液晶材料性能的主要方法，常规仪器测量液晶单元的C－Vac特性遇到一个问题是比较大测试电压不够。使用扩展测量选件可提供分辨率为1%及比较高达20Vms的可编程测试信号电平，使它能在比较好条件下进行液晶材料的电容特性测量。半导体材料和元件的测量进行MOS型半导体制造工艺评价时，需要氧化层电容和衬底杂质密度这些参数，这些可从C－Vdc特性的测量结果推导出来。通过提供的直流源，结合各种扫描功能，可以方便地完成C-VDC特性的测量。为了测试晶圆上的半导体器件，需要延伸电缆和探头，仪器的1m/2m/4m延伸电缆选件可将电缆延伸的误差降至**小。各种二极管、三极管、MOS管的分布电容也是本仪器的测试内容。上海元器件参数测量数字电桥价格
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