半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试，探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。 普遍应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。中文名探针台外文名Probestationchuck尺寸100mm～300mm针座摆放个数2～8颗适用领域4寸～12寸Wafer，如晶圆厂、LED。工作环境，探针台应放在稳定可靠的台面上，较好是具有防震装置的工作台上，避免在高温，潮湿激烈震动，阳光直接照射和灰尘较多的环境下使用。探针台拥有先进的天文仪器，可以提供高质量的观测数据。IC探针台参考价
温控探针台是一款使用温度范围在-190℃-600℃的仪器，在我们使用时还可对样品气氛进行控制，同时允许探针电测试、光学观察和样品气体环境控制。这样既可以保证，即使在极低温度下，腔体也不产生结霜影响实验，又可以防止样品发生氧化。探针台上盖与底壳构成一个气密腔，可往内充入氮气等保护气体，来防止样品在负温下结霜，或高温下氧化。此款通过杠杆式支架，使用的是弯针探针。相比传统的直针探针，这种设计不只点针更准确，而且点针力度更大，和样品的电接触性更好。IC探针台参考价探针台的建设需要对宇宙环境综合思考，并有针对性解决相关科技难题。
GBITEST+MPI 半自动探针台。半导体测试可以按生产流程可以分为三类：验证测试、晶圆测试测试、封装检测。晶圆检测环节需要使用测试仪和探针台，测试仪/机用于检测芯片功能和性能，探针台实现被测芯片与测试机的连接，通过探针台和测试机的配合使用对晶圆上的裸芯片进行功能和电参数测试或射频测试，可以对芯片的良品、不良品的进行筛选。探针台的分类探针台可以按照使用类型与功能来划分，也可以按照操作方式来划分成：手动探针台、半自动探针台、全自动探针台。
探针台的基本组件，探针台由六个基本组件组成：Chuck – 一种用于固定晶片或裸片而不损坏它的装置。载物台 – 用于将卡盘定位在 X、Y、Z 和 Theta (θ) 上。机械手——用于将探头定位在被测设备 (DUT) 上。压板 - 用于固定操纵器并使探针与设备接触。探头先进和臂 - 安装在机械手上，它们直接接触设备。光学 - 用于查看和放大被测设备和探头先进。它是如何工作的？探针台将晶圆或芯片固定在安装在平台上的卡盘上，该平台允许将 DUT 定位在显微镜视野的中心。探针台的科研成果对推动人类文明的发展有着重要的作用。
半导体测试是半导体生产过程中的重要环节，其测试设备包括测试机、分选机、探针台。其中，测试机是检测芯片功能和性能的专业设备，分选机和探针台是将芯片的引脚与测试机的功能模块连接起来的专业设备，与测试机共同实现批量自动化测试。受益于国内封装测试业产能扩张，半导体测试设备市场快速发展。8英寸手动探针台是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，适用于对芯片进行科研分析，抽查测试等用途。普遍应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。探针台的设立能够加深人类对宇宙和自身的认识。安徽电学温控探针台参考价
探针台的建设需要全球头脑的智慧和力量。IC探针台参考价
半自动型，chuck尺寸800mm/600mm，X,Y电动移动行程200mm/150mm，chuck粗调升降9mm，微调升降16mm，可搭配MITUTOYO金相显微镜或者AEC实体显微镜，针座摆放个数6～8颗，显微镜X-Y-Z移动范围2"x2"x2"，可搭配Probe card测试，适用领域：8寸/6寸Wafer、IC测试之产品。电动型：chuck尺寸1200mm，平坦度土1u（不锈钢或镀金），X,Y电动移动行程300mm x 300mm，chuck粗调升降9mm，微调升降16mm，微调精度土1u，可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜，针座摆放个数8～12颗，显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“，材质：花岗岩台面+不锈钢，可搭配Probe card测试，适用领域：12寸Wafer、IC测试之产品。IC探针台参考价